«Medida de Tensión Residual en Multicapas de TiN/TaN recubiertas por Pulverización Catódica por Magnetrón con Voltaje de Polarización en Sustrato de Silicio (100)» (2025) SCIÉNDO INGENIUM, 21(2), pp. 81–89. doi:10.17268/scien.inge.2025.02.06.