Diaz, Jaime E., Luís M. Angelats, y Junior Asencios. 2025. «Medida De Tensión Residual En Multicapas De TiN/TaN Recubiertas Por Pulverización Catódica Por Magnetrón Con Voltaje De Polarización En Sustrato De Silicio (100)». SCIÉNDO INGENIUM 21 (2):81-89. https://doi.org/10.17268/scien.inge.2025.02.06.